短波紅外相機采用InGaAs焦平面探測器，640×512@15μm分辨率，可帶 TEC制冷，可自由開窗，具備目標跟蹤功能；具有透霧能力強、幀頻高、接口豐富、結構緊湊、性能穩定等特點。采用優異的低噪聲設計和TEC制冷設計，機芯具有很低的暗電流和高動態范圍，保證了更佳的圖像質量。
應用領域：透霧成像、微光成像、激光光斑識別與跟蹤、激光導引、戰場激光排查、空間光通信、水分或結冰探測、電信光纖傳輸質量檢測、手持/機載/車載光電載荷、森林防火、半導體/太陽能電池板檢測、材料分選、天文及生物成像等方面。
產品特色：
靈敏度高、透霧能力強；
專業的圖像處理算法：自適應對比度增強，板載非均勻性較正，自動曝光/自動增益控制；
多種幀頻可調：畫面流暢，適合不同集成需求；
可選圖像跟蹤功能，相關跟蹤和質心跟蹤兩種模式，可用于激光光斑跟蹤；
數字、模擬視頻同步輸出：PAL/NTSC/CameraLink/GigE
| 規格型號
| VS-SWA640C
| VS-SWA640
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| 分辨率
| 640x512
| 640x512
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| 像元尺寸
| 15微米
| 15微米
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| 最高幀速
| 50/100/300Hz
| 50/100/300Hz
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| 光譜響應范圍
| 0.9-1.7微米
| 0.9-1.7微米
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| 探測器
| InGaAs
| InGaAs
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| 增益模式
| 手動/自動增益
| 手動/自動增益
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| 數據接口
| CameraLink/千兆以太網
| CameraLink/千兆以太網
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| 制冷方式
| TE制冷
| 非制冷
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| 是否支持開窗
| 可自由開窗（支持160*12像素@1000Hz）
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| 曝光時間
| 手動/自動曝光
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| 圖像算法
| 自適應對比度增強，板載非均勻性較正，自動曝光/自動增益控制,可選光斑跟蹤算法
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